正如您将从统计类中回忆的那样,平均值是所有测量的简单平均值。标准差提供了传播的指示。出于我们的目的,我们希望标准偏差尽可能小。
您将看到平均值在整个处理过程中保持不变,任何变化都很容易归因于舍入误差(如预期的那样)。标准偏差(SD)表示数据的扩展,随着FIR抽头数量的增加而减少 - 这这是因为移动平均滤波器正在减轻外围数据点的影响。我还通过平均滤波器显示数据的标准偏差,以便感兴趣的读者将ADC(数字平均滤波器)内的平均效果与ADC外部的平均值(移动平均滤波器)进行比较。
该数据集的平均值为0.6987°,没有平滑或数据处理,标准偏差为0.0025°。这提供了比平均值低3个数量级的标准偏差。标准误差甚至更小,为0.000078°。但是所有这些小数位真的重要吗?这是一个非常小的标准偏差。6标准偏差范围(6σ)为0.015° - 给出了我从设备读取的单个值在实际值的0.015°范围内的概率为99.999999%。该设备可能具有更高的分辨率,但我的实验设置或PCB设计引入了太多噪音。
现在 - 下一个问题。我可以做得更好吗?据统计,我可以收集更多的测量数据。但是,如果我不想坐在那里等待设备收集数千个数据点,并使用大量的处理器内存和处理器能力,那么可接受的设备配置是什么?为此,让我们看看另一个实验 - 由32768次平均读数的1023次试验组成。如果我在微控制器内部存储32768个32位测量值,我需要至少131 kB的内存,并且知道处理累积数据的时钟周期数。如果我想在ADC内部平均32768次测量,我只需将转换引脚切换32768次。
使用ADC内部的数字平均滤波器可以将存储和计算的负担从微控制器转移出去,从而将其释放出去做其他事情。
在这里,32768次试验在ADC内平均 - 平均为0.701°,标准偏差为0.000547°。6σ范围为0.003°,单次测量在0.688°和0.704°之间的可能性为99.999999%。
也许我的测斜仪并不像我想要的那样精确,但事实是我创造了一个比我需要的更精确的子系统:我可以测量到百分之一度的倾角并知道测量值与实际值之间的差异可以忽略不计。在这一点上,我没有计划构建,调整或表征任何需要更精确的东西。
您是否有任何可以从高精度测斜仪设计中受益的项目或系统?是否有您希望添加到此子系统的功能或功能?请在下面的评论部分分享您的想法。
所有数据集如下所示: